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BTism
Projekt 11/90

µsoft metrology

Die optischen Messsysteme von NanoFocus ermöglichen exakte dreidimensionale Oberflächenanalysen bis in den Mikro– und Nanometerbereich. Wichtiger Bestandteil der Systeme ist die Mess– und Analysesoftware µsoft metrology. Für die Integration neuer Funktionen wurde in Zusammenarbeit mit der NanoFocus Softwareentwicklung ein neues Interaktionsmodell konzipiert. Die klar strukturierte Benutzerführung ermöglicht eine schnelle Durchführung der komplexen Messvorgänge. Das gestaltete Interfacedesign steigert Bediensicherheit und Bedienkomfort der Anwendung. Bei geringen Bildschirmauflösungen wechselt die Anordnung der Bedienelemente, um eine großflächige Darstellung des Kamerabilds zu erhalten.

Softwareoberfläche 2011


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